Fraunhofer-Institut für Fabrikbetrieb 
Inline 3D-Messtechnik für Prozessteuerung und Qualitätskontrolle
Die optische 3D-Messtechnik ersetzt zunehmend die klassische taktile Messtechnik. Neue Anwendungsfelder werden erschlossen, wenige sind bereits realisiert. Die Vorteile der optischen Messtechnik – eine schnelle und berührungslose Arbeitsweise sowie eine gute Automatisierbarkeit – sind insbesondere für die Realisierung fertigungsintegrierter Mess- und Prüfsysteme wertvoll. Solche Inline-Messtechnik ermöglicht eine unmittelbare Erfassung von Prozessschwankungen und Qualitätsfehlern sowie eine direkte Rückkopplung der Messergebnisse in den Prozess. Damit ergibt sich ein hohes Potenzial zur Verbesserung der Produktqualität und Effizienz der Fertigung. Inline-Messtechnik wird als integraler Bestandteil der Produktion zum wertschöpfenden Faktor einer effizienten und wettbewerbsfähigen Produktion.
Messtechnologie OptoInspect 3D
Schnelligkeit, Robustheit, Automatisierbarkeit und ein geeignetes Messprinzip sind zentrale Eigenschaften einer inline-fähigen Messtechnologie. Die am Fraunhofer IFF entwickelte Messtechnologie OptoInspect 3D ist ein modularer Werkzeugkasten für die Realisierung anwendungsspezifisch zugeschnittener 3D-Messsysteme unter Nutzung triangulationsbasierter Messverfahren.
Die Technologie OptoInspect 3D umfasst Methoden und Werkzeuge für den Entwurf, die Dimensionierung und Simulation triangulationsbasierter Laserlichtschnittsensoren. Sie beinhaltet Werkzeuge für das Kalibrieren und Einmessen anwendungsspezifisch konfigurierter Systeme aus mehreren Sensoren und Sensorbewegungskomponenten. Ein weiterer zentraler Bestandteil sind Funktionen und Methoden für eine schnelle, taktgebundene und automatische Messdatenauswertung und Geometriemerkmalsbestimmung.
Einsatzgebiete und typische Anwendungen
Die Messtechnologie OptoInspect 3D ist branchenunabhängig einsetzbar und geeignet für vielfältige Aufgaben der Prozesssteuerung und Qualitätsprüfung wie
- dimensionelle Prüfung geometrischer Toleranzen für Maß, Form und Lage
- Formprüfung
- Oberflächenprüfung
- Anwesenheitsprüfung, Vollständigkeitsprüfung
- Positionserkennung, Lageerkennung