Messen und Prüfen direkt im Fertigungsprozess

Forschung und Entwicklung im Geschäftsfeld Mess- und Prüftechnik

Messung von Oberflächenprofilen

Online-Dickenprofilmessung für Flachprodukte

Bei der Herstellung verschiedenster Flachprodukte in Form von Platten (z. B. Mineralstoffplatten, Spanplatten) oder Bahnen (z. B. gewalzte Bleche, Bänder oder Brammen) besteht häufig der Bedarf einer kontinuierlichen Erfassung des Oberflächenprofils direkt im Fertigungsprozess. Neben der Qualitätskontrolle können die gewonnenen Informationen für die Regelung des jeweiligen Prozesses genutzt werden.

Häufig werden punktförmig messende Systeme mit festen Messspuren oder traversierende Systeme eingesetzt. Ebenfalls weit verbreitet ist die Anwendung radiometrischer oder punktförmig messender Laserabstandssensoren. Ist eine Erfassung über große Breiten notwendig, scheitern diese Verfahren aus wirtschaftlichen Gründen. Eine Alternative bieten Lösungen mit kaskadiert angeordneten, linienförmig messenden Laserlichtschnittsensoren.

Kaskadierte Laserlichtschnittsensoren

Derartige Messsysteme zur Dicken- und Profilvermessung werden entsprechend der erforderlichen Bahnenbreite und Messunsicherheit aus mehreren quer zur Materialtransportrichtung angeordneten, linienförmig messenden Laserlichtschnittsensoren konfiguriert. Diese Sensoren werden kalibriert und in ein gemeinsames Koordinatensystem mit festem Bezug zum Messobjekt eingemessen. Während der Bewegung des Messobjekts unter dem System entlang werden in äquidistanten Abständen Messdaten erfasst und online vollständige Profilquerschnitte daraus berechnet und visualisiert. Mit einer einseitigen Messung gegen eine Referenz oder einer doppelseitigen Messung ist eine kontinuierliche Bestimmung eines Höhenprofils oder eines Dickenprofils möglich.

Das Fraunhofer IFF verfügt über anwendungsfertiges Know-how zur Konfiguration und Realisierung anwendungsspezifischer Systemlösungen. Herausstellungsmerkmale dabei sind die Realisierbarkeit schneller Online-Messungen über große Breiten bei einer gleichzeitig hohen Auflösung in der Messrichtung.